HAST高压加速老化试验箱

HAST高压加速老化试验机随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了*新的压力蒸煮锅试验方法。